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仪综所博士专家代表出席“数字工厂”工作会议

2016年06月22日 10:15:09 人气: 16073 来源: 仪综所
  【仪表网 仪表会议】2016年5月10日~13日,IEC/TC65/WG16“数字工厂”在美国密尔沃基召开工作组会议,来自德国、美国、中国、日本等的7名专家出席了此次会议,机械工业仪器仪表综合研究所(以下简称“仪综所”)副总工王春喜博士作为中国专家参加了会议。
  

  “数字工厂”是以产品全生命周期的相关数据为基础,对整个生产系统和生产过程进行数字化、仿真、评估和优化的新型生产组织方式。IEC/TC65/WG16“数字工厂(Digital Factory)”标准工作组2012年已完成技术报告IEC/TR 62794“工业过程测量、控制和自动化制造工厂参考模型(数字工厂)”,我国也已将其转化为国家标准GB/Z 32235-2015。
  
  目前该工作组基于IEC/TR 62794正在制定系列标准IEC 62832“工业过程测量、控制和自动化  数字工厂框架”。该标准包括4个部分,分别为“第1部分:一般原则;第2部分:信息模型;第3部分:用于制造系统全生命周期管理的数字工厂应用;第4部分:信息集成”。其中,第1部分已完成DTS稿,预计今年年底发布。此次会议主要讨论了第2部分和第3部分的标准框架,制定了下一步工作计划,并对这两部分的标准编制进行分工,仪综所作为主要起草单位承担了第3部分第四章“数字工厂”部分内容的起草工作。
  
  下次会议预计于9月12日~16日在日本广岛召开。参与“数字工厂”标准制定工作将促进仪综所正在承担的智能制造专项任务的执行,也有利于智能制造相关标准的制定工作。
  
  (原标题:我所派员赴美国参加IEC/TC65/WG16“数字工厂”工作组会议)
关键词: 智能化,数字化
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